Oberflächenanalytik/Elektronenmikroskopie

 

Ausstattung des Labors:

UHV - Oberflächenanalytik :

• Photoelektronenspektroskopie (XPS, UPS)
• UHV-STM (Rastertunnelmikroskop)

Elektronenmikroskopie:

• Tescan Mira 2 XMU
• Energiedispersive Mikroanalyse LINK (Oxford Instruments) mit ATW- Detektor (Bor bis Uran)
• Element-Verteilungsanalysen

Rastersondenmikroskopie:

• Rasterscope 5000 (DME): AFM, STM, EC-STM, Spektroskopie
• Naio-AFM
• Naio-STM

Messtechnik:

• Impedanzanalysator Sciospe ISX3
• Keithley 2400 Source Meter

Anwendungen:

• Dünne Schichten
• Nanostrukturen
• Werkstoffcharakterisierung

Aktuelle Forschungsthemen für Bachelor-, Master- und Doktorarbeiten:

• Herstellung und Charakterisierung von Nanomaterialien bzw. Funktionsmaterialien für Anwendungen in der Sensorik
• Elektrochemische Herstellung und Charakterisierung dünner Schichten für Anwendungen in der Elektronik und Sensorik
• Materialcharakterisierung mit Impedanzspektroskopie
• Charakterisierung von Werkstoffen, Werkstoffgrenzflächen und dünner Schichten

Ansprechpartner:

Prof. Dr. Christian Müller

Westsächsische Hochschule Zwickau
Fakultät Physikalische Technik/Informatik
Kornmarkt 1
08056 Zwickau

Postanschrift: PF 201037
08012 Zwickau

+49 375 536 1510 bzw. 1513
+49 375 536 1503
christian.mueller1[at]fh-zwickau.de